Wzorcowanie aparatury pomiarowej w.2 poprawione
Cena regularna:
towar niedostępny

Opis
- aktualne wzorce pierwotne podstawowych jednostek miar, wzorce pomiarowe i badanie jednolitości miar;
- podstawowe pojęcia metrologii, procedury zapewnienia jedności miar, procedury wzorcowania przyrządów pomiarowych i badania aparatury pomiarowej;
- zasady tworzenia schematów sprawdzań wzorców i narzędzi pomiarowych;
- aspekty niepewności wyników pomiarów i procedur wyznaczania niepewności;
- wstępne opracowanie wyników kalibracji oraz procedury estymacji charakterystyk liniowych i nieliniowych, jedno- i wielowymiarowych przy różnych właściwościach błędów;
- badanie metod analitycznych oraz badania międzylaboratoryjne procedur wzorcowania;
- aspekty komputeryzacji procedur kalibracji i obsługi laboratorium;
- sprawdzanie (walidację) metod badania i wzorcowania;
- laboratoria akredytowane oraz zagadnienia prawnej kontroli metrologicznej i oceny zgodności;
- przykład księgi jakości laboratorium spełniającego wymagania normy PN-EN ISO/IEC 17025:2005.
Książka jest adresowana zarówno do studentów uniwersytetów (na wydziałach fizyki i chemii), jak i politechnik, oraz do pracowników naukowych i inżynierów zajmujących się budową aparatury pomiarowej oraz jej stosowaniem we wszystkich dziedzinach od mechaniki, elektrotechniki po chemię fizyczną i analityczną.
Szczegóły
ISBN | 9788301170516 |
Autor | Piotrowski Marek |
Oprawa | br |
Rok wydania | 2012 |
Format | b5 |
Stron | 582 |
Koszty dostawy
Cena nie zawiera ewentualnych kosztów płatności
Opinie o produkcie (0)
