Współczesna mikroanaliza rentgenowska

Dostępność: Dostęny
Wysyłka w: 24 godziny
Dostawa: Cena nie zawiera ewentualnych kosztów płatności sprawdź formy dostawy
Cena brutto: 28,00 zł
zawiera 5% VAT, bez kosztów dostawy
28.00
Cena netto: 26,67 zł
bez 5% VAT i kosztów dostawy
ilość egz.

towar niedostępny

dodaj do przechowalni
Pin It

Opis

W książce opisano procesy oddziaływania elektronów z materiałem próbki oraz scharakteryzowano mikroobjętość określającą przestrzenną rozdzielczość mikroanalizy. Omówiono współcześnie stosowane metody detekcji promieniowania X oraz podstawowe techniki mikroanalizy. Określono optymalne warunki prowadzenia analiz oraz ich możliwości i ograniczenia. Przedstawiono standardowe metody korekcji stosowane w ilościowej mikroanalizie rentgenowskiej elementów mikrostruktury próbki o wymiarach większych od wymiarów krytycznych sfer wzbudzenia promieniowania X oraz opisano zasady ustalania procedury eksperymentalnej, zapewniającej uzyskanie wysokiej dokładności analiz. Uwzględniono specyfikę analizy długofalowego promieniowania X, szczególnie pierwiastków lekkich (Z<11). Przedstawiono niestandardowe metody analizy ilościowej, które powinny być stosowane w szczególnych przypadkach. 
 
Książka stanowi istotną pomoc naukową dla studentów i doktorantów z zakresu inżynierii materiałowej, metalurgii, fizyki, chemii oraz kierunków pokrewnych, a także specjalistów wykorzystujących w swoich badaniach mikroanalizę składu chemicznego materiałów. Trudne zagadnienia teoretyczne zostały przedstawione w sposób przystępny i łatwy do zrozumienia nawet przez średnio zaawansowanych studentów.

Szczegóły

ISBN 9788378145974
Autor Sikorski Zdzisław.E. redakcja
Oprawa br
Rok wydania 2016
Format b5
Stron 122

Koszty dostawy Cena nie zawiera ewentualnych kosztów płatności

Kraj wysyłki:

Opinie o produkcie (0)

Submit
Newsletter
Podaj swój adres e-mail, jeżeli chcesz otrzymywać informacje o nowościach i promocjach.
Submit
do góry
Sklep jest w trybie podglądu
Pokaż pełną wersję strony
Sklep internetowy Shoper.pl