Współczesna mikroanaliza rentgenowska
towar niedostępny
dodaj do przechowalni
Opis
W książce opisano procesy oddziaływania elektronów z materiałem próbki oraz scharakteryzowano mikroobjętość określającą przestrzenną rozdzielczość mikroanalizy. Omówiono współcześnie stosowane metody detekcji promieniowania X oraz podstawowe techniki mikroanalizy. Określono optymalne warunki prowadzenia analiz oraz ich możliwości i ograniczenia. Przedstawiono standardowe metody korekcji stosowane w ilościowej mikroanalizie rentgenowskiej elementów mikrostruktury próbki o wymiarach większych od wymiarów krytycznych sfer wzbudzenia promieniowania X oraz opisano zasady ustalania procedury eksperymentalnej, zapewniającej uzyskanie wysokiej dokładności analiz. Uwzględniono specyfikę analizy długofalowego promieniowania X, szczególnie pierwiastków lekkich (Z<11). Przedstawiono niestandardowe metody analizy ilościowej, które powinny być stosowane w szczególnych przypadkach.
Książka stanowi istotną pomoc naukową dla studentów i doktorantów z zakresu inżynierii materiałowej, metalurgii, fizyki, chemii oraz kierunków pokrewnych, a także specjalistów wykorzystujących w swoich badaniach mikroanalizę składu chemicznego materiałów. Trudne zagadnienia teoretyczne zostały przedstawione w sposób przystępny i łatwy do zrozumienia nawet przez średnio zaawansowanych studentów.
Szczegóły
| ISBN | 9788378145974 |
| Autor | Sikorski |
| Oprawa | broszura |
| Rok wydania | 2016 |
| Format | b5 |
| Stron | 122 |
Koszty dostawy
Cena nie zawiera ewentualnych kosztów płatności
Opinie o produkcie (0)
Newsletter